近年來(lái),隨著信息通信技術(shù)領(lǐng)域產(chǎn)生的數(shù)據(jù)量爆炸式增長(zhǎng),對(duì)存儲(chǔ)器性能和容量的需求不斷提升,存儲(chǔ)器測(cè)試環(huán)節(jié)也面臨著接口速率不斷提高(PCIe6.0/DDR5)、存儲(chǔ)容量不斷倍增(TLC/QLC,238/ 176 層)以及快速分析測(cè)試結(jié)果等方面帶來(lái)的新挑戰(zhàn)。Advantest T5503HS2 量產(chǎn)測(cè)試系統(tǒng)近日,Advan
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